本產(chǎn)品能同時(shí)測(cè)量磁性基材表面（如鋼和鐵）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電鍍涂層（如油漆等）。本儀表內(nèi)置高精密一體化探頭，同時(shí)運(yùn)用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)兩種原理，自動(dòng)檢測(cè)基材屬性并探測(cè)涂鍍層厚度，并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。

　　塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。

　　EXF鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。

　　EXF鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào)；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；計(jì)算機(jī)*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

　　EXF鍍層測(cè)厚儀能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。